誤碼率測試解決方案
誤碼率測試解決方案(深圳市鴻瑞科電子儀器有限公司) | |
針對計算機(jī)互連和數(shù)字傳輸測試的解決方案 為特定應(yīng)用領(lǐng)域優(yōu)化的解決方案??無需采用通用儀器 新的協(xié)議的不斷推出,速度的急劇增加,收縮的誤差域度繼續(xù)向數(shù)字傳輸測試工程師施加重壓。此外,對光電發(fā)送器和接收器、高速數(shù)字元件、復(fù)用器和分離用器的評測、驗證和測試任務(wù)也已超出通用儀器的能力。 針對您特殊需要的誤碼率測試解決方案 ParBERT 81250。新的Agilent ParBERT81250是模塊化的并行誤碼率測試解決方案,它能以高達(dá)2.67Gb/s的速率同時在64條線上測試。ParBERT81250不僅能作誤碼率測量,還能**評測您的器件,所提供的測試特性包括傳播延遲及建立和保持時間。詳細(xì)情況請參看第30頁。 適用于**測試的輔助產(chǎn)品 86100A Infiniium 數(shù)字通信分析儀。 Agilent 86100有多種支持高達(dá)50GHz測量的插入模塊,為您提供用于數(shù)字測試的多種功能工具集??砂阉鳛槭静ㄆ髟u測信號參數(shù),作為通信分析儀測量高速光信號或電信號眼圖和脈沖參數(shù),或作為時域反射計對傳輸線進(jìn)行測試。 用業(yè)界*快的并行BER測試器加速產(chǎn)品投放市場和形成批量生產(chǎn) 并行測試至OC-768器件的靈活解決方案 有了ParBERT 81250,就能使用基于WindowsNT操作系統(tǒng)方便地設(shè)置測量 對高速元件進(jìn)行高速BER測試 ParBERT81250能為電信元件,比如復(fù)用器/分離用器、前向錯誤校正器件和存儲域網(wǎng)絡(luò)IC(包括千兆位以太網(wǎng)、平板顯示鏈路,光纖通道和Infiniband標(biāo)準(zhǔn))提供世界上*快的并行BER測試。您將具有對這些器件進(jìn)行**測試的工具,所包含的測量有建立和保持時間、傳播延遲,以及BER與溫度的關(guān)系。ParBERT81250提供芯片控制信號,分頻或倍頻時鐘信號,使您能分析適于包括LVDS在內(nèi)各種邏輯電路的單端、低壓和差分信號。 強大、靈活的功能特性 ParBERT81250是基于VXI的儀器,具有極高的靈活性和可擴(kuò)充性。可按您的特殊要求混合使用分析儀通道和發(fā)生器通道。它能產(chǎn)生偽隨機(jī)字序列(PRWS)和高達(dá)231-1的標(biāo)準(zhǔn)PRBS,使用用戶定義數(shù)據(jù)、PRBS或來自并行端口的混合數(shù)據(jù)分析誤碼率。 測試OC-48,-192和-768 使用ParBERT81250和樣板器件,您就能對40千兆位器件進(jìn)行并行的背對背測試。無需使用樣板器件就可評測OC-48的性能特性。為不使用樣板器件測試OC-192,要組合使用81250和71612B12Gb/s錯誤性能分析儀。我們已集成了幫助您測試新LVDS器件的各種資料;通過在www.agilent.com/find/bert的鏈接,您能找到上述資料,以及其它多種應(yīng)用資料。 Agilent ParBERT 81250
用熟悉的圖形方式簡化BER測試和分析 Agilent 86130ABitAlyzer把操作簡便和分析能力融于一體,使您能更快地對前向錯誤校正(FEC)器件、高速數(shù)字部件和系統(tǒng),以及其它各種半導(dǎo)體部件進(jìn)行測試和查找錯誤。 提高設(shè)計效率的獨特工具 86130A BitAlyzer使用SyntheSysResearch的**錯誤分析技術(shù),幫助發(fā)現(xiàn)形成系統(tǒng)行為的原因。86130A分析工具能幫助您分析猝發(fā)錯誤、模式靈敏度、無錯間隔時間、錯誤塊、錯誤校正編碼和錯誤關(guān)聯(lián)。2-D錯誤映射選件使您能更深入理解系統(tǒng)行為。您也可用不同的交疊深度進(jìn)行試驗,以得到*大的吞吐率。
帶有**錯誤分析的3.6Gb/s錯誤性質(zhì)分析儀,提供對錯誤成因的洞察 Agilent 86130A BitAlyzer 86130A BitAlyzer |